簡要描述：多導毛細聚焦鍍層測厚儀在柔性電路板、芯片封裝環(huán)節(jié)、晶圓微區(qū)的鍍層厚度和成分自動測試分析中盡顯優(yōu)勢主要利用X射線全反射原理，從X射線管激發(fā)出來的X射線束在毛細玻璃管的內(nèi)壁以全反射的方式進行傳輸，利用毛細玻璃管的彎曲來改變X射線的傳輸方向，從而實現(xiàn)X射線匯聚，同時將X射線的強度增加2～3個數(shù)量級。
產(chǎn)品型號：XRF膜厚儀XAD-μ廠商性質：生產(chǎn)廠家更新時間：2023-10-26訪 問 量：547| 品牌 | SKYRAY/天瑞儀器 | 價格區(qū)間 | 10萬-20萬 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,綜合 |
| 分辨率 | 140EV | 元素分析 | 硫(S)到鈾（U） |
| 外觀尺寸 | 576(W)×495(D)×545(H)?mm | 樣品室尺寸 | 500(W)×350(D)×140(H)?mm |
多導毛細聚焦鍍層測厚儀：
多導毛細聚焦鍍層測厚儀XRF應用多導毛細管技術，輕松應對超小測量點薄涂層和極薄涂層的測量分析，在柔性電路板、芯片封裝環(huán)節(jié)、晶圓微區(qū)的鍍層厚度和成分自動測試分析中盡顯優(yōu)勢。XAD-μ多導毛細聚焦XRF應用多導毛細管技術，輕松應對超小測量點薄涂層和極薄涂層的測量分析，在柔性電路板、芯片封裝環(huán)節(jié)、晶圓微區(qū)的鍍層厚度和成分自動測試分析中盡顯優(yōu)勢主要利用X射線全反射原理，從X射線管激發(fā)出來的X射線束在毛細玻璃管的內(nèi)壁以全反射的方式進行傳輸，利用毛細玻璃管的彎曲來改變X射線的傳輸方向，從而實現(xiàn)X射線匯聚，同時將X射線的強度增加2～3個數(shù)量級
主要利用X射線全反射原理，從X射線管激發(fā)出來的X射線束在毛細玻璃管的內(nèi)壁以全反射的方式進行傳輸，利用毛細玻璃管的彎曲來改變X射線的傳輸方向，從而實現(xiàn)X射線匯聚，同時將X射線的強度增加2～3個數(shù)量級。
儀器的高集成光路系統(tǒng)的基礎上，搭配多導毛細管 實現(xiàn)極小面積或極薄鍍層的高速、精確、穩(wěn)定的測量，聚焦直徑可小至10μm
? 多導毛細聚焦技術，可產(chǎn)生比準直器機構強千倍的信號強度
? 多導毛細管將激發(fā)光束非常高強度的集中在一個的小光斑上，從而顯著縮短測量時間
? 在測量納米級Au厚度或薄膜層厚度及成分時，滿足微小光斑、短測量時間的同時，測量效果
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